- 三軸外差式雙頻激光干涉儀，用于位移、俯仰角和偏擺角的三角關系測量
- 高靈活性調整模塊，適用于所有數控機床的參數的測量
- 動態測量最大速度4m/s，實時顯示三個軸的測量數據
- 小型反射鏡，帶有磁性固定裝置
- 適用于筆記本電腦、PCI和PXI中線，與網絡兼容
- 位移測量標準分辨率為1nm，角度測量分辨率為0.01"
- 使用高精度溫度傳感器，系統精度可達50nm/m
- 可拓展為6軸測量
- 外部觸發最大頻率為40MHz快速調整也適用于3D
- 所有3軸實時數據測量，無延時
- 最多可擴展到6軸
- 小型反射鏡
- 外部最大觸發頻率40MHz
JENAer測量技術公司生產的雙頻激光干涉儀，是世界上唯一一家將頂級的蔡司光學鏡用于激光干涉儀領域的制造商。該公司的雙頻激光干涉儀，不僅能夠精確的測量數控機床的幾何量，如線性度、直線度、垂直度、角度、平面度等，還能夠測量數控機床的回轉量等。多軸干涉儀儀更可測量和檢測物體的微位移、擺動振動情況、工作臺的運動情況等。更多信息歡迎來電垂詢！
.JPG)
 |
 |
| 三軸測量軟件（位移、偏擺和俯仰角） | 三角關系的設定 |
 |
 |
| 測量結果的統計 | 在位置5開始測量 |
 |
 |
| 位移和角度的完全測量 | ISO230數據統計標準 |
