CCI MP是一種高級的測量干涉儀（非接觸式3D輪廓儀）。 它采用享有專利的新型關聯算法，來查找由我們的精密光學掃描裝置產生的干涉圖的相干峰和相位。
CCI MP對于很多需要進行高精度3D輪廓分析的應用非常有用。 轉臺上可以同步裝配各種各樣的標的物，因而可測量多種類型的表面。 全自動的工作臺和自動測量程序進一步增強了測量的靈活性。
CCI MP非接觸式3D輪廓儀的一個關鍵優勢就是功能多、用途廣。 反射率為0.3%至100%的拋光表面、粗糙表面、曲面、平面或臺階面，都能使用一種算法進行測量，不需要為不同的表面改變模式，也不用擔心會選擇錯誤的模式。 可測量的材料類型包括： 玻璃、液體墨水、光刻膠、金屬、聚合物和糊劑。
