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無論測量的是何種元件，無論對分析速度的要求有多高，我們創新的CCI MP-HS非接觸式光學輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結果。 一百萬高速相機與1/10埃垂直分辨率相結合，無論是測量非常粗糙的表面，還是測量極其光滑的表面，都能獲得令人不可思議的詳細分析。

CCI MP-HS極大地擴展了分析能力，同時又不至于讓分析程序變得更復雜。 您可以測量各種各樣的元件和表面，不需要進行復雜的測量模式切換，也不會給中間透鏡的校準增加額外的負擔。 通過標準化的方法、程序和報告，CCI MP-HS可輕松地整合到您的質量管理系統中。

• 1048 x 1048像素陣列，視場廣，高分辨率
• 高級X、Y、Z拼接，擴展量程
• RMS重復精度<0.2 埃，階躍高度重復精度<0.1%
• 整合抗振，優化抗噪性能
• 多語言版本的Windows，64位軟件