XT V 160：電子檢測用納米技術（NanoTech） X射線系統
XT V 160也被稱為Revolution，是利用X-Tek 20年納米級焦點X射線技術方面的經驗研制開發的產品。
該系統提供了一個結構緊湊的系統內可能獲得的最高分辨率和放大倍數，非常適用于生產線上和故障分析實驗室內電子零部件的檢測。
XT V 160是一款通用工具，使操作人員很方便地利用該系統的手動和編程檢測功能。最為重要的是，它可用于計算機斷層掃描CT檢測，根據其完整的三維圖像，重構該試樣。
設計用于100% BGA和μBGA 檢測，多層板檢測和PCB焊接點檢測，XT V 160 X射線檢測系統是一個使用簡便，分辨率高和成本低廉的檢測解決方案，是檢測實驗室必不可少的骨干設備。
XT V 160檢測優點
操作使用直觀
能在很短的時間內獲得高質量圖像
市場領先的放大倍數，適用于100%板檢測
75°傾斜視角（板平面的方位角為15°）
購置成本低
安全裝置，可作為設計標準
占用空間小
