PTI 250RS當產量提高與性能需求的問題同時出現時，透鏡表面和透鏡半徑制作從而變得越來越關鍵和困難。用于DVD播放機、手機、CD ROM、內窺鏡、數碼相機和其他高產量產品所需的光學元件需求量正快速增長，同時所要求的性能規格也越來越嚴格。然而，這些產品越來越輕薄短小，所以在每一道生產工序上也就越來越不易控制其性能。在光學性能檢測上所遭遇了挑戰，其中包括：光學表面形態、光學表面半徑、球面鏡和非球面鏡的發射波陣，以及多透鏡光學系統的光學性能檢測；制造商也遇到了必須解決影響產品質量下降的一系列問題，例如發生過度或欠缺拋光、光學模具損耗、材質變動與組裝公差等等問題。 PTI 250 是一套穩定且易于使用的干涉儀，可以提供透鏡和透鏡系統的3維表面形態面和波陣圖及透鏡曲率半徑與檢測。這是第一套小型干涉儀系統，其與ZYGO公司所制造的干涉儀（也是世界標準）一致。PTI 250 是純正的ZYGO干涉儀，同時還提供易于使用和可靠的測量方法且有很好的投資報酬率，極適合高產量生產控制，同時也可作為科研人員研發使用。
PTI 250特點
25mm孔徑干涉儀
附帶涵蓋許多應用范圍的系列光學配件
操作方便且快速的干涉條紋對準系統
手動孔徑調焦降低邊緣衍射并加強性能
Z軸手動粗調300mm與微調30mm
直接與世界標準的ZYGO GPI 及VeriFire 干涉儀進行校準
配有高精度、高可靠度且易于使用的溫控半導體激光器
可選用垂直、水平或向上方式的測試座
提供未來產品升級需要與附件使用
根據不同的應用需求PTI 250系列分為：PTI 250RS, PTI 250P, PTI 250F, PTI 250V
PTI 250RS
具備研究用干涉儀所需要的高功能性及靈活性。
在2秒內，可產生多于300,000個像素的定量三維圖。
位相測量干涉儀，精度大于λ/100。
采用FlashPhase™ 數據采集方法，在不穩定及有振動的環境下仍能進行可靠測量。
采用標準的Zygo MetroPro™ 界面――干涉檢測的國際標準。
可測曲率半徑 (選用)。
PTI 250P
生產用位相調制干涉儀。
可產生多于300,000 個像素的定量表面形態圖。
位相測量干涉儀，精度大于λ/100。
采用標準的Zygo MetroPro軟件，多語言支持的操作界面。
可測曲率半徑 (選用)。
PTI 250P / PTI 250F
PTI 250V
PTI 250F
經濟實用的生產用位相調制干涉儀。 l 采用FlashPhase數據采集方法，可在干擾較大的生產環境下進行可靠的測量。
可產生多于300,000 個像素的定量表面形態圖。
采用FlashPhase作位相測量。
采用標準的Zygo MetroPro 軟件，多語言支持的操作界面。
可測曲率半徑 (選用)。
PTI 250V
廉格生產用快速檢測干涉儀。
目測條紋方式，檢測產品。
可測曲率半徑 (選用)。
可升級到PTI 250F 和PTI 250P 。
